<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">sredob</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Здоровье населения и среда обитания – ЗНиСО</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Public Health and Life Environment – PH&amp;LE</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2219-5238</issn><issn pub-type="epub">2619-0788</issn><publisher><publisher-name>ФБУЗ ФЦГиЭ Роспотребнадзора</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.35627/2219-5238/2020-332-11-67-71</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">sredob-286</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ГИГИЕНА ТРУДА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OCCUPATIONAL HEALTH</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Условия труда работающих в основных профессиях производства электронных изделий и компонентов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Working conditions of employees of main occupations in the production of electronic devices and components</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-9037-0301</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кирьянова</surname><given-names>Марина Николаевна</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kir'yanova</surname><given-names>Marina N.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">mrn@ro.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-4727-7950</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Маркова</surname><given-names>О. Л.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Markova</surname><given-names>O. L.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-9461-9979</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Иванова</surname><given-names>Е. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ivanova</surname><given-names>E. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>ФБУН «Северо-Западный научный центр гигиены и общественного здоровья» Роспотребнадзора</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>North-West Public Health Research Center of Rospotrebnadzor</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2020</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>14</day><month>04</month><year>2021</year></pub-date><volume>0</volume><issue>11</issue><fpage>67</fpage><lpage>71</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Кирьянова М.Н., Маркова О.Л., Иванова Е.В., 2021</copyright-statement><copyright-year>2021</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Кирьянова М.Н., Маркова О.Л., Иванова Е.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Kir'yanova M.N., Markova O.L., Ivanova E.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://zniso.fcgie.ru/jour/article/view/286">https://zniso.fcgie.ru/jour/article/view/286</self-uri><abstract><p>Введение. Развитие цифровой экономики невозможно без широкого применения изделий микроэлектронной промышленности. В производстве электронных компонентов занят большой контингент высококвалифицированных специалистов. Целью исследования являлась гигиеническая оценка условий труда работников, обеспечивающих получение электронных изделий и компонентов. Материалы, методы. В статье приведены результаты изучения условий и характера труда основных профессий в современном производстве полупроводниковых резисторов, конденсаторов, микросхем на всех этапах технологического процесса. Оценивались уровни звука, искусственной освещенности, микроклимата, загрязнение воздушной среды на рабочих местах; на основании хронометражных наблюдений оценены тяжесть и напряженность труда основных профессий. Всего выполнено более 1250 исследований факторов производственной среды и показателей трудового процесса. Результаты исследований. В формировании условий труда работников, осуществляющих приготовление и обработку керамических композиций, определяющая роль принадлежит загрязнению воздушной среды соединениями свинца, повышенным уровням шума, нагревающему микроклимату. При выполнении прецизионных сборочных операций и контроле качества изделий с использованием оптических приборов ведущими вредными факторами являются тяжесть и напряженность трудового процесса. Сенсорная нагрузка при выполнении этих операций в течение 55-75 % смены оценивается как 3 класс 1 степени. Выводы. На основании изучения условий труда выявлены приоритетные вредные факторы для оценки риска здоровью работающих, обоснованы направления комплексной профилактики профессиональных и производственно-обусловленных заболеваний работающих в производстве компонентов радиоэлектронной аппаратуры.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Introduction: The development of digital economy is impossible without a widespread use of microelectronic products. Many highly qualified specialists are employed in the production of electronic components. The objective of our study was to conduct a hygienic assessment of working conditions in electronics production. Materials and methods: We studied the conditions and nature of work in employees of the main occupations in the modern production of semiconductor resistors, capacitors, and microcircuits at all stages of the technological process. We measured noise, illuminance, and air pollution at workplaces and assessed labor severity and intensity based on work time observations. In total, over 1,250 tests of factors of occupational environment and indices of labor processes were made. Results: We established that air pollution with lead compounds, increased levels of noise, and hot microclimate mostly determined working conditions of employees engaged in preparation and processing of ceramic compositions. Occupational risk factors for those performing precision assembling operations and quality control using optical devices included severity and intensity of the labor process. Sensory load when performing these operations during 55-75 % of the work shift was assessed as Grade 3.1. Conclusions: Our findings helped identify priority adverse occupational factors for electronics workers' health risk assessment and substantiate comprehensive measures for prevention of occupational and production-related diseases.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>производство электронных компонентов</kwd><kwd>условия труда</kwd><kwd>факторы профессионального риска</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>production of electronic components</kwd><kwd>working conditions</kwd><kwd>occupational risk factors</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Белоус А.И., Лабунов В.А., Солодуха В.А. Современная микроэлектроника: тенденции развития, проблемы и угрозы // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября - 05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 18-23.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Белоус А.И., Лабунов В.А., Солодуха В.А. Современная микроэлектроника: тенденции развития, проблемы и угрозы // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября - 05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 18-23.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шпак В.В. Микроэлектронная промышленность - основа суверенитета России // Материалы 4-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2018» Республика Крым, г. Алушта, 1-6 октября 2018 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2018. С. 24-28.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Шпак В.В. Микроэлектронная промышленность - основа суверенитета России // Материалы 4-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2018» Республика Крым, г. Алушта, 1-6 октября 2018 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2018. С. 24-28.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Елесин В.В., Усачев Н.А., Никифоров А.Ю. и др. Электронная компонентная база твердотельной СВЧ-электроники: тенденции развития, современное состояние и проблемы // Материалы 4-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2018» Республика Крым, г. Алушта, 1-6 октября 2018 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2018. С. 35-39.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Елесин В.В., Усачев Н.А., Никифоров А.Ю. и др. Электронная компонентная база твердотельной СВЧ-электроники: тенденции развития, современное состояние и проблемы // Материалы 4-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2018» Республика Крым, г. Алушта, 1-6 октября 2018 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2018. С. 35-39.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Назаркин М. Ю. Микроэлектроника в медицине // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября-05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 169.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Назаркин М. Ю. Микроэлектроника в медицине // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября-05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 169.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Засемков В.С. Разработка новой электронной компонентной базы для нейроморфных интегральных схем // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября-05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 533-537.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Засемков В.С. Разработка новой электронной компонентной базы для нейроморфных интегральных схем // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября-05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 533-537.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Киреев В. Технологии и оборудование для производства интегральных микросхем. Состояние и основные тенденции развития. Электроника НТБ. 2004. № 7 (57). С. 72-77.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Киреев В. Технологии и оборудование для производства интегральных микросхем. Состояние и основные тенденции развития. Электроника НТБ. 2004. № 7 (57). С. 72-77.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Макушин М. Производственная база мировой электроники. Тенденции развития. Электроника НТБ. 2014. № 5 (136). С. 116-131.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Макушин М. Производственная база мировой электроники. Тенденции развития. Электроника НТБ. 2014. № 5 (136). С. 116-131.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Хисамов А.Х. СТО нового формата для малых полупроводниковых производств как путь конкурентоспособного развития микроэлектроники в РФ // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября-05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 519-524.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Хисамов А.Х. СТО нового формата для малых полупроводниковых производств как путь конкурентоспособного развития микроэлектроники в РФ // Материалы 5-й Международной научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Международный форум «Микроэлектроника-2019». Республика Крым, г. Алушта, 30 сентября-05 октября 2019 г. М.: ТЕХНОСФЕРА, 2019. С. 519-524.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Патутин В.Н., Артамонова В.Г., Костючек Д.Ф. Труд и здоровье женщин репродуктивного возраста приборостроительной промышленности. Пути профилактики. СПб., 2001. 156 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Патутин В.Н., Артамонова В.Г., Костючек Д.Ф. Труд и здоровье женщин репродуктивного возраста приборостроительной промышленности. Пути профилактики. СПб., 2001. 156 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дубейковская Л.С., Фролова Н.М., Салангина Л.И. Кирьянова М.Н., Сладкова Ю.Н. Гигиена труда и здоровье работающих в приборостроении // Медицина труда и промышленная экология. 2001. № 10. С. 3-8.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Дубейковская Л.С., Фролова Н.М., Салангина Л.И. Кирьянова М.Н., Сладкова Ю.Н. Гигиена труда и здоровье работающих в приборостроении // Медицина труда и промышленная экология. 2001. № 10. С. 3-8.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кирьянова М.Н., Маркова О.Л., Иванова Е.В. Гигиеническая оценка условий труда при производстве радиоэлектронных компонентов // Гигиена и санитария. 2018. Т. 97. № 12. С. 1235-1238.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кирьянова М.Н., Маркова О.Л., Иванова Е.В. Гигиеническая оценка условий труда при производстве радиоэлектронных компонентов // Гигиена и санитария. 2018. Т. 97. № 12. С. 1235-1238.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кирьянова М.Н., Маркова О.Л., Иванова Е.В. Особенности формирования условий труда работников основных профессий в производстве интегральных микросхем. Медицина труда и промышленная экология. 2019. № 8. С. 508-512.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кирьянова М.Н., Маркова О.Л., Иванова Е.В. Особенности формирования условий труда работников основных профессий в производстве интегральных микросхем. Медицина труда и промышленная экология. 2019. № 8. С. 508-512.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Салангина Л.И., Дубейковская Л.С., Сладкова Ю.Н. и др. Гигиеническая оценка условий труда и состояние здоровья женщин, занятых процессами пайки // Медицина труда и промышленная экология. 2001. № 10. С. 8-13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Салангина Л.И., Дубейковская Л.С., Сладкова Ю.Н. и др. Гигиеническая оценка условий труда и состояние здоровья женщин, занятых процессами пайки // Медицина труда и промышленная экология. 2001. № 10. С. 8-13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фролова Н.М. Оценка профессионального риска работающих женщин в радиоэлектронном приборостроении // Охрана труда и техника безопасности на промышленных предприятиях. 2013. № 3. С. 17-19.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фролова Н.М. Оценка профессионального риска работающих женщин в радиоэлектронном приборостроении // Охрана труда и техника безопасности на промышленных предприятиях. 2013. № 3. С. 17-19.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Плеханов В.П. Оценка риска хронического перенапряжения пользователей компьютеров в зависимости от возраста и стажа работы // Медицина труда и промышленная экология. 2018. № 5. С. 58-61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Плеханов В.П. Оценка риска хронического перенапряжения пользователей компьютеров в зависимости от возраста и стажа работы // Медицина труда и промышленная экология. 2018. № 5. С. 58-61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сорокин Г.А. Утомление и профессиональный риск. СПб.: Издательство СПб Политехнического университета, 2008. 368 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сорокин Г.А. Утомление и профессиональный риск. СПб.: Издательство СПб Политехнического университета, 2008. 368 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Никонов В.А., Мозжухина Н.А., Еремин Г.Б. Научное обоснование разработки профилактических мероприятий при напряженных зрительных работах // Здоровье населения и среда обитания. 2014. № 3 (252). С. 14-15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Никонов В.А., Мозжухина Н.А., Еремин Г.Б. Научное обоснование разработки профилактических мероприятий при напряженных зрительных работах // Здоровье населения и среда обитания. 2014. № 3 (252). С. 14-15.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ушкова И.Н., Малькова Н.Ю., Чернушевич Н.И. и др. Низкоинтенсивное лазерное излучение в профилактических мероприятиях // Медицина труда и промышленная экология. 2013. № 8. С. 34-37.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ушкова И.Н., Малькова Н.Ю., Чернушевич Н.И. и др. Низкоинтенсивное лазерное излучение в профилактических мероприятиях // Медицина труда и промышленная экология. 2013. № 8. С. 34-37.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ушкова И.Н., Малькова Н.Ю., Чистяков Н.Д. и др. Применение низкоинтенсивного лазерного излучения в практике профпатологии // Медицина труда и промышленная экология. 2015. № 2. С. 16-18.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ушкова И.Н., Малькова Н.Ю., Чистяков Н.Д. и др. Применение низкоинтенсивного лазерного излучения в практике профпатологии // Медицина труда и промышленная экология. 2015. № 2. С. 16-18.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Amano H, Baines Y, Beam E, et al. The 2018 GaN power electronics roadmap. J Phys D: Appl Phys. 2018; 51(16):163001. DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/aaaf9d</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Amano H, Baines Y, Beam E, et al. The 2018 GaN power electronics roadmap. J Phys D: Appl Phys. 2018; 51(16):163001. DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/aaaf9d</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hara S, Khumpuang S, Yajima T, et al. Minimal fab with a complete isolation between man and product. Earozoru Kenkyu. 2016; 31(2):81-88. (In Japanese). DOI: https:// doi.org/10.11203/jar.31.81</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hara S, Khumpuang S, Yajima T, et al. Minimal fab with a complete isolation between man and product. Earozoru Kenkyu. 2016; 31(2):81-88. (In Japanese). DOI: https:// doi.org/10.11203/jar.31.81</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pinyen Lin. Industrial Transition to 450mm Notchless Wafers. Semiconductor Technology Symposium SEMICON West, 2014. Available at: https://semiengineering.com/this-is-what-450mm-wafers-look-like. Accessed: 7 Sept 2020.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pinyen Lin. Industrial Transition to 450mm Notchless Wafers. Semiconductor Technology Symposium SEMICON West, 2014. Available at: https://semiengineering.com/this-is-what-450mm-wafers-look-like. Accessed: 7 Sept 2020.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Khisamov AKh. [A new format of special technological equipment for small-scale semiconductor production plants as a way of competitive development of microelectronics in RF.] In: Electronic Component Base and Microelectronic Modules: Proceedings of the 5th International Scientific Conference “Microelectronics-2019”, Alushta, 30 Sept 5 Oct 2019. Moscow: TEKHNOSFERA Publ., 2019. P. 519-524. (In Russian)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Khisamov AKh. [A new format of special technological equipment for small-scale semiconductor production plants as a way of competitive development of microelectronics in RF.] In: Electronic Component Base and Microelectronic Modules: Proceedings of the 5th International Scientific Conference “Microelectronics-2019”, Alushta, 30 Sept 5 Oct 2019. Moscow: TEKHNOSFERA Publ., 2019. P. 519-524. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Buckley JP, Hedge A, Yates T, et al. The sedentary office: an expert statement on the growing case for change towards better health and productivity. Br J Sports Med. 2015; 49(21):1357-62. DOI: https://doi.org/10.1136/ bjsports-2015-094618</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Buckley JP, Hedge A, Yates T, et al. The sedentary office: an expert statement on the growing case for change towards better health and productivity. Br J Sports Med. 2015; 49(21):1357-62. DOI: https://doi.org/10.1136/ bjsports-2015-094618</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Nikonov VA, Mozzhukhina NA, Yeremin GB. Scientific foundation for developing preventive measures in intensive visual work. Zdorov’e Naseleniya i Sreda Obitaniya. 2014; (3(252)):14-15. (In Russian)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Nikonov VA, Mozzhukhina NA, Yeremin GB. Scientific foundation for developing preventive measures in intensive visual work. Zdorov’e Naseleniya i Sreda Obitaniya. 2014; (3(252)):14-15. (In Russian)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
